电源管理芯片高温老炼检测系统(HTOL-MHz)
微电子器件
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本系统适用于各种封装类型的电源管理芯片在高温环境下进行功率老炼筛选和稳态寿命试验(HTOL)
晶体振荡器全动态老炼检测系统(HTOL-MHz)
本系统适用于各种封装类型的晶体振荡器在高温环境下进行动态老炼筛选试验(HTOL-MHz)
电源模块高温老炼检测系统(HTOL-耗散型)
本系统适用于各种封装类型的电源模块在高温环境下进行功率老炼筛选和稳态寿命试验(HTOL-耗散型)。
电源模块高温老炼检测系统(HTOL-能馈型)
本系统适用于各种封装类型的电源模块在高温环境下进行功率老炼筛选和稳态寿命试验(HTOL-能馈型)。
滤波器高温老炼检测系统(HTOL-能馈型)
本系统适用于各种封装类型的滤波器在高温环境下进行功率老炼筛选和稳态寿命试验(HTOL-能馈型)。
IMU惯性传感器芯片高温老炼检测系统 (HTOL)
本系统适用于各种封装类型的IMU惯性传感器芯片在高温环境下进行动态老炼筛选试验(HTOL)。
光电模块高温动态老炼检测系统(HTOL)
本系统适用于各种封装类型的光电模块在高温环境下进行动态老炼筛选试验(HTOL)
霍尔电流传感器芯片高温老炼检测系统(HTOL)
本系统适用于各种封装类型的霍尔电流传感器芯片在高温环境下进行动态老炼筛选试验(HTOL)。