S-PCTE-1000/3000-36 功率循环测试机
半导体分立器件
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本系统适用于各种封装的半导体分立器件进行功率间歇寿命试验(IOL)、秒级﹙s﹚/分钟级﹙min﹚功率循环试验(Power Cycling)。
功率模块间歇寿命老炼检测系统(分体机/PCTE-1000A/3000A)
本系统适用于各种封装类型以及逆变器尺寸级的半导体功率模块进行(PCsec & PCmin)功率循环试验(Power Cycling)。
功率模块间歇寿命老炼检测系统(标准机/PCTE-1000A/3000A)
本系统适用于各种封装类型的半导体功率模块进行(PCsec & PCmin)功率循环试验(Power Cycling)
功率单管间歇寿命老炼检测系统(标准机/PCTE-250A/1000A)
本系统适用于各种封装类型的半导体功率单管和小型模块进行(PCsec & PCmin)间歇寿命试验(IOL)和功率循环试验(Power Cycling)
间歇寿命老炼检测系统(IOL-500mA/20A)
功率模块高温栅偏老炼检测系统(HTGB)
本系统适用于各种封装类型的半导体功率模块进行高温栅偏试验(HTIR)
功率模块高温高湿反偏老炼检测系统(H3TRB)
本系统适用于各种封装类型的半导体功率模块进行高温高湿反偏试验(HTRB/HTRB+/HTIR)
功率模块高温反偏老炼检测系统(热板型/HTRB)
本系统适用于各种封装类型的半导体功率模块进行高温反偏试验(HTRB/HTRB+/HTIR)