MMIC微波射频放大器高温动态老炼检测系统(动态HTOL)
微波/射频器件
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本系统适用于各种封装类型的MMIC微波射频放大器在高温环境下进行功率老炼筛选和稳态寿命试验(动态HTOL)。
HBTpHEMT微波射频器件高温老炼检测系统(HTOL)
本系统适用于各种封装类型的HBTpHEMT微波射频器件在高温环境下进行功率老炼筛选和稳态寿命试验(HTOL)。
高加速应力试验老炼检测系统(HAST/B-HAST)
本系统适用于各种封装类型的微波射频器件进行高加速应力试验(HAST/B-HAST/HTIR)。
微波射频器件高温栅偏老炼检测系统(HTGB)
本系统适用于各种封装类型的微波射频器件进行高温栅偏试验(HTGB/HTIR)。
微波射频器件高温高湿老炼检测系统(H3TRB)
本系统适用于各种封装类型的微波射频器件进行高温高湿反偏试验(H3TRB/HTIR)。
微波射频器件高温反偏老炼检测系统(HTRB)
本系统适用于各种封装类型的微波射频器件进行高温反偏试验(HTRB/HTIR)。
微波射频器件三温测试机(TEST)
本系统适用于各类射频器件高温、常温和低温下的性能测试,具备S参数测试、线性度测试、电源测试、噪声系数测试、相位噪声测试、矢量信号测试和射频时序测试功能。硬件上通过开关矩阵实现各种仪器、仪表的信号切换,软件上通过高精度快速测量算法、非理想负载校正算法、动态范围扩展算法实现无人员干预下全自动测试。本系统还具备了测试单元模组化、测试方案集成化和测试流程一体化的特点,以及载具修正、参数补偿、仪表性能扩展等多项技术,可全面提高测试精度和效率。