电子开关高温动态老炼检测系统(HTOL)
电子及电气元件
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本系统适用于各种封装类型的电子开关在高温环境下进行功率老炼筛选和稳态寿命试验(HTOL)。
交流断路器测试机系统(TEST)
本系统适用于各种封装类型的交流断路器在常温环境下进行安秒测试(TEST)。
直流断路器测试系统(TEST)
本系统适用于各种封装类型的直流断路器在常温环境下进行安秒测试(TEST)。
光MOS型继电器老炼试验检测系统(HTOL)
本系统适用于各种封装类型的继电器在高温环境下进行功率老炼筛选和稳态寿命试验(HTOL)。
光MOS型继电器负载条件及寿命试验系统(OP-Life)
本系统适用于各种封装类型的继电器在常温环境下进行功率老炼筛选和稳态寿命试验(OP-Life)。
电阻器老炼检测系统(OP-Life)
本系统适用于各种封装类型的电阻器在常温环境下进行功率老炼筛选和稳态寿命试验(OP-Life)。
超级电容器电容器高温老炼检测系统(HTFB)
本系统适用于各种封装类型的超级电容器进行高温正偏试验(HTFB/HTIR)。
电容器电容器高温老炼检测系统(HTHHB)
本系统适用于各种封装类型的电容器进行高温高湿正偏试验(HTHHB/HTIR)。