IC测试座
老化板/老化插座
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本产品针对IC测试座专业设计,保证探针连接稳定可靠;采用进口探针和防静电工程材料(PEI、PPSToron材料)制作;探针可以更换,维修方便,成本低;最小可以做到测试间距pitch=0.15mm;测试频率最高可达60GHZ。
开模标准HAST-HTOL测试-老化座
本产品采用开模Socket+探针结构,大大降低设计、加工成本,降低使用费用;测试座带有散热片能有效解决芯片散热问题;交期快,提高使用效率;Housing整体采用开模精度高,测试稳定;适用于自动化测试,便于机械手取放,提高效率。
标准老化座/烧录座
本产品Socket本体为PEI;Socket 结构采用Open-top/翻盖形式;弹片材料为镀铜;机械测试寿命为1.5-2.5万次;QFN下压测试座机械测试寿命可达10万次;使用温度为-55°C ~ +175C°C。